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Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology VII (eBook)

Autor: Cor (Hrsg.) Claeys
CHF 273.30
ISBN: 978-3-0357-0671-0
Einband: PDF
Verfügbarkeit: Download, sofort verfügbar (Link per E-Mail)
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GADEST 1997

Proceedings of the 7th International Autumn Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology (GADEST '97), Spa, Belgium, October 1997

Autor Claeys, Cor (Hrsg.) / Vanhellemont, Jan (Hrsg.) / Richter, Hans (Hrsg.) / Kittler, Martin (Hrsg.)
Verlag Trans Tech Publications
Einband PDF
Erscheinungsjahr 1997
Seitenangabe 556 S.
Ausgabekennzeichen Englisch

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